硬盤(pán)壞道是硬盤(pán)的最大殺手，如果硬盤(pán)開(kāi)始有壞道而不進(jìn)行修復(fù)的話那么壞道就會(huì)越來(lái)越多，直到硬盤(pán)不能使用，數(shù)據(jù)無(wú)法讀取，那么比較好用的硬盤(pán)壞道檢測(cè)修復(fù)工具（HDDScan）就可以幫助你快速檢測(cè)硬盤(pán)壞道了~懷疑自己的硬盤(pán)有壞道或是常規(guī)檢測(cè)都可以使用HDDScan。

功能介紹

支持的存儲(chǔ)設(shè)備：

– IDE（ATA）和 SATA 硬盤(pán)、SCSI（SAS）硬盤(pán)；

– 外部 USB 驅(qū)動(dòng)器和所有主要的 USB 盒；

– 火線或 IEEE 1394 硬盤(pán)；

– ATA（IDE）RAID 卷/SATA/SCSI 硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器（僅適用于表面測(cè)試）；

– USB 閃存（便攜驅(qū)動(dòng)器）- 僅適用于表面測(cè)試；

– SATA/ATA SSD 固態(tài)驅(qū)動(dòng)器（新）。

存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試：

– 線性驗(yàn)證模式 – 有助于確定您的驅(qū)動(dòng)器是否需要數(shù)據(jù)搶救，有可恢復(fù)的錯(cuò)誤或在它完美的形狀。

– 線性讀取模式 – 簡(jiǎn)單，但速度更快的磁盤(pán)檢查。

– 線性擦除模式。

– 蝶形讀取模式（合成隨機(jī)讀?。?/p>

S.M.A.R.T.：

– 讀取和分析 ATA/SATA/USB/火線硬盤(pán)的 SMART 參數(shù)。

– 讀取和分析 SCSI 硬盤(pán)日志頁(yè)。

– 在 ATA/SATA/USB/火線硬盤(pán)上運(yùn)行 SMART 測(cè)試。

– ATA/SATA/USB/火線/SCSI 硬盤(pán)溫度監(jiān)視器。

附加功能：

– 讀取和分析 ATA/SATA/USB/火線/SCSI 硬盤(pán)的身份信息。

– 更改 ATA/SATA/USB/火線硬盤(pán)的 AAM、APM、PM 參數(shù)。

– 報(bào)告 SCSI 硬盤(pán)的缺陷信息。

– 啟動(dòng)或停止 ATA/SATA/USB/火線/SCSI 硬盤(pán)的主軸功能。

– 保存 MHT 格式報(bào)告。

– 打印報(bào)告。

– 皮膚支持。

– 命令行支持。

– SSD SMART 和身份報(bào)告（新）。

硬盤(pán)壞道檢測(cè)教程：

1、打開(kāi)軟件后點(diǎn)那個(gè)下拉三角箭頭，選擇要檢測(cè)的硬盤(pán)，如圖：


3、將鼠標(biāo)移到SMART上，然后點(diǎn)擊，查看該磁盤(pán)健康信息。


4、接著我們可以進(jìn)行測(cè)試，進(jìn)行測(cè)試了，該過(guò)程有四個(gè)測(cè)試方式：驗(yàn)證，讀取，蝶式和擦除。

5、等待一會(huì)，測(cè)試完畢會(huì)給出報(bào)告。您就可以看出硬盤(pán)哪里出了問(wèn)題。